Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Academic Centre for Materials and Nanotechnology
ACMIN-zim


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 57, z ogólnej liczby 61 publikacji Autora


1
  • 3D Active sites of Te in hyperdoped Si by hard X-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / Moritz Hoesch, Mao Wang, Shengqiang Zhou, Christoph Schlüter, Olena Fedchenko, Katerina Medjanik, Sergej Babenkov, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Gerd Schönhense // W: Virtual DPG spring meeting 2021 [Dokument elektroniczny] : of the surface science division : 1-4 March 2021. — [Deutschland : Deutsche Physikalische Gesellschaft], [2021]. — S. 58, [O 46.2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://surfacescience21.dpg-tagungen.de/bilder/programm.pdf [2021-10-08]. — Bibliogr. s. 58

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • About EBSD at 0-degree tilt and TKD with thick samples at conventional detector geometry / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Piotr BAŁA, Tomasz TOKARSKI // W: EM'2024 : XVIII\textsuperscript{th} international conference on Electron Microscopy : 9–12 June 2024, Zakopane, Poland : book of abstracts / eds. Joanna Wojewoda-Budka, [et al.]. — Kraków : Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, 2024. — ISBN: 978-83-60768-98-3. — S. 45. — Bibliogr. s. 45

  • keywords: diffraction, EBSD, signal, contrast inverted patterns

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • Absolute structure from scanning electron microscopy / Ulrich Burkhardt, Horst Borrmann, Philip Moll, Marcus Schmidt, Yuri Grin, Aimo WINKELMANN // Scientific Reports [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2045-2322. — 2020 vol. 10 iss. 1 art. no. 4065, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-04. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V, Hannover, Germany. — tekst: https://www.nature.com/articles/s41598-020-59854-y.pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s41598-020-59854-y

5
6
  • Adaptive phase or variant formation in modulated Ni-Mn-Ga martensite? / R. Chulist, A. Sozinov, M. Faryna, A. WINKELMANN, L. Straka, N. Schell, W. Skrotzki // W: ICOTOM\textsuperscript{19}(2021) [Dokument elektroniczny] : the 19th International Conference on Textures of Materials : March 1 to 4, 2021, virtual conference, Japan : book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Japan : s. n.], [2021]. — S. 114. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://icotom19.com/ [2021-11-26]. — Dostęp po zalogowaniu. — R. Chulist – afiliacja: Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, Kraków

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Advanced diffraction mapping of nitride semiconductor thin films and nanostructures : [abstract] / J. Bruckbauer, G. Ferenczi, R. McDermott, K. Hiller, B. Hourahine, A. WINKELMANN, C. Trager-Cowan // W: EMAS 2023 [Dokument elektroniczny] : 17\textsuperscript{th} European workshop on Modern developments and applications in microbeam analysis : 7–11 May 2023, Krakow, Poland : book of tutorials and abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Zürich : European Microbeam Analysis Society eV (EMAS), cop. 2023. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-90-8227-6961. — S. 306–308. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 308. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, Great Britain

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Advances in electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction for imaging and analysis of structural defects in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, [et al.], A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012023, s. 1–10. — Bibliogr. s. 8–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop : 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis : 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012023/pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012023

9
10
  • Analysis of lattice distortions in high-carbon steels using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Piotr BAŁA // W: ICOTOM 20 [Dokument elektroniczny] : 20\textsuperscript{th} International Conference on Textures of Materials : Metz, France, June 30 - July 6, 2024 : book of abstracts / University of Lorraine. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [France : University of Lorraine], [2024]. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://drive.google.com/file/d/19DpJ3WPEZ7mMGOZp5GO6Qvu6IbLNPbtH/view [2024-07-23]

  • keywords: martensite, EBSD

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
12
13
14
  • Badania EBSD struktury domenowej faz międzymetalicznych Cu-Sn po przemianach fazowychEBSD investigation of domain structures after phase transformations in Cu-Sn intermetallics / WINKELMANN A. // W: SIM 2023 [Dokument elektroniczny] : 50 Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków, 27–29 IX 2023 / opiekun naukowy konferencji Piotr Bała ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza], [2023]. — S. 43. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://s.agh.edu.pl/77XIG [2023-10-12]. — Afiliacja autora: Akademia Górniczo-Hutnicza

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • Bulk spin polarization of magnetite from spin-resolved hard x-ray photoelectron spectroscopy / M. Schmitt, [et al.], A. WINKELMANN, [et al.] // Physical Review. B ; ISSN 2469-9950. — Tytuł poprz.: Physical Review B, Condensed Matter and Materials Physics ; ISSN: 1098-0121. — 2021 vol. 104 iss. 4 art. no. 045129, s. 045129-1–045129-10. — Bibliogr. s. 045129-8–045129-10. — Publikacja dostępna online od: 2021-07-19. — tekst: https://journals.aps.org/prb/pdf/10.1103/PhysRevB.104.045129

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1103/PhysRevB.104.045129

16
17
  • Correlating crystallographic orientation and ferroic properties of twin domains in metal halide perovskites / Yongtao Liu, Patrick Trimby, Liam Collins, Mahshid Ahmadi, Aimo WINKELMANN, Roger Proksch, Olga S. Ovchinnikova // ACS Nano ; ISSN 1936-0851. — 2021 vol. 15 iss. 4, s. 7139–7148. — Bibliogr. s. 7146–7148, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-03-26. — tekst: https://pubs-1acs-1org-137rjw91w00ab.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/pdf/10.1021/acsnano.1c00310

    orcid iD
  • keywords: piezoelectricity, crystallographic orientation, ferroelectricity, electron backscatter diffraction, metal halide perovskites, piezoresponse force microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/acsnano.1c00310

18
  • Correlation of heterogeneous local martensite tetragonality and carbon distribution in high carbon steel / Thomas Kohne, Alexander Dahlström, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2022 vol. 15 iss. 19 art. no. 6653, s. 1–11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–11, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2022-09-25. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/15/19/6653/pdf?version=1664359136

    orcid iD
  • keywords: electron backscatter diffraction, martensite transformation, atom probe tomography, martensite tetragonality

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma15196653

19
20
21
22
  • EBSD and TKD analyses using inverted contrast Kikuchi diffraction patterns and alternative measurement geometries / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Benedykt R. Jany, Piotr BAŁA // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2024 vol. 267 art. no. 114055, s. 1-8. — Bibliogr. s. 8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2024-09-21. — P. Bała - dod. afiliacja: Academic Centre for Materials and Nanotechnology, AGH University of Krakow. — tekst: https://s.agh.edu.pl/uzjBf

    orcid iD
  • keywords: EBSD, topography, Kikuchi diffraction, TKD, contrast inversion

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2024.114055

23
24
  • Effects of multiple elastic and inelastic scattering on energy-resolved contrast in Kikuchi diffraction / M. Vos, A. WINKELMANN // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2019 vol. 21 iss. 12 art. no. 123018, s. 1–19. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 18–19, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2019-12-13. — A. Winkelmann - pierwsza afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V., Hannover, Germany. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/ab5cd1/pdf

    orcid iD
  • keywords: silicon, Kikuchi pattern, electron energy loss

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/ab5cd1

25
  • Emitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / O. Fedchenko, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 12–13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-10-01. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf

    orcid iD
  • keywords: silicon, photoemission, photoelectron diffraction, interstitial sites, substitutional sites, time of flight momentum microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/abb68b